儀器簡介：
微區X射線熒光光譜分析技術是對不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破坏性的元素分析的 方法。採用多導毛細管聚焦鏡將激 發光聚焦到非常小的區域，以獲得 的空間分辨率，進行快速分析。任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品制備甚至不制備直接進行分析。
測定鍍層樣品厚度及成分
採用X射線熒光技術的M4可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件採用無標樣基本參數法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品進一步提高定量分析的準確性
RoHS檢測
測量一個PCB樣品。u安甦的面分布圖顯示了下列元素的分布情況：Br(綠色）、Cu（紅色）、Au（黃色）、Pb（白色）和Sn（粉紅色）
圖像的原始大小：250×75像素
測量時間：0.15s/像素
主要特點：
M4 TORNADO採用了全新的技術，為各種用戶提供了 分析性能和非常方便的操控性。
採用多導毛細管聚焦鏡，照射光斑最小，空間分辨率 。
渦輪增速X-Y-Z樣品台，借助放大倍數可變的攝像系統獲得高品質的樣品影像，可在“飛行中”進行元素分布分析。
高強度的X射線光管與多導毛細管聚焦鏡相結合，確保在非常小的照射區域內獲得非常高的激發強度。採用濾光片和可以同時使用的配有不同靶材的雙光管，可以根據不同的分析要求，優化激發光譜。
使用XFlash®探測器超高速地獲取樣品圖譜，另外，使用多個探測器可以進一步提高測量速度。
採用無標樣分析法精確定量分析塊狀樣品，精確分析多層膜樣品。
可抽真空的樣品室配有自動門，大尺寸的樣品室可以放置各種尺寸的樣品。通過兩個放大倍數可變的攝像系統觀察樣品（整體觀察和分析區域的細緻觀察），便捷進樣功能和自動對焦功能可以進行快速而精確的定位。通過用戶編輯的X-Y-Z樣品台運行程序可實現重複測量。
行業應用：
- 地球科學（岩心、岩石、沉澱物、微體化石、年輪等多元素分布成像）
- 司法鑑定、法醫及痕量分析（對衣物上的彈孔進行射擊殘留物GSR分析）
- 藝朮與考古(對文物進行顏料、色料的成分分析，修復文物)
- 質量控制與故障分析儀（電子和電子部件元素分析，ROHS分析）
- 發動機部件、電機/潤滑油（識別電機/潤滑油中的發動機磨損產物）
- 生命科學（檢查樹木橫斷面/葉子/樹根年輪）
- 材料科學（鋼材腐蝕檢驗）
- 環境科學(土壤重金屬、污水污泥重金屬分析、空氣和城市廢物)
- 過濾器上的薄膜（空氣濾膜）
- 有意者可詳談！
